Materials, processes, integration and reliability in advanced interconnects for micro- and nanoelectronics - symposium held April 10-12, 2007, San Francisco, California, U.S.A
- Författare
- (Editors: Qinghuang Lin ..)
- Genre
- Konferenspublikation, Bibliografi
- Språk
- Engelska
Förlag | År | Ort | Om boken | ISBN |
---|---|---|---|---|
Materials Research Society | cop. 2007 | Pennsylvania, Warrendale, Pa | xiv, 338 sidor. ill. 24 cm. | 978-1-55899-950-3 |