Materials, processes, integration and reliability in advanced interconnects for micro- and nanoelectronics - symposium held April 10-12, 2007, San Francisco, California, U.S.A

Författare
(Editors: Qinghuang Lin ..)
Genre
Konferenspublikation, Bibliografi
Språk
Engelska
Förlag År Ort Om boken ISBN
Materials Research Society cop. 2007 Pennsylvania, Warrendale, Pa xiv, 338 sidor. ill. 24 cm. 978-1-55899-950-3